Аналитическое и исследовательское оборудование
Атомно-силовые микроскопы от ведущего мирового производителя

Атомно-силовые микроскопы (АСМ, или AFM — Atomic Force Microscope) — это передовые приборы сканирующей зондовой микроскопии, позволяющие исследовать поверхности материалов с разрешением до долей нанометра. В отличие от оптических или электронных микроскопов, АСМ "ощупывают" поверхность зондом, регистрируя силы взаимодействия. Это делает их незаменимыми в нанотехнологиях, материаловедении и биологии. Если вы ищете надежный атомно-силовой микроскоп для лаборатории или производства, наш ассортимент предлагает современные модели с высокой точностью.

Что измеряют атомно-силовые микроскопы?

АСМ измеряют силы взаимодействия между острым зондом (кантилевером с наконечником) и поверхностью образца. Основные измеряемые величины:

  • Топография поверхности: Высота, шероховатость, рельеф с субнанометровой точностью (до ангстремов).
  • Механические свойства: Жесткость, эластичность, адгезия, трение, модуль Юнга.
  • Электрические и магнитные свойства: Проводимость, поверхностный потенциал, магнитные силы.
  • Другие параметры: Электростатические силы, силы Ван-дер-Ваальса, вязкоупругость, капиллярные силы.

Приборы работают в различных режимах: контактном, бесконтактном и полуконтактном, что позволяет адаптировать измерения под разные задачи. АСМ превосходят многие аналоги, так как работают с проводящими и непроводящими материалами, в воздухе, вакууме или жидкости.

В каких стандартах используются атомно-силовые микроскопы?

АСМ — это метрологически точные приборы, соответствующие международным и национальным стандартам. Они применяются для калибровки и поверки в наноизмерениях:

  • Международные стандарты ISO:
    • ISO 23729 (восстановление изображений с учетом размера зонда).
    • ISO 13095 (характеристика профиля зонда).
    • ISO 28600 (формат данных для SPM).
  • Российские стандарты ГОСТ Р:
    • ГОСТ Р 8.635-2007 (методика калибровки сканирующих зондовых АСМ).
    • ГОСТ 8.593-2009 (методика поверки).
  • Другие: ASTM E2859 (измерение размеров наночастиц с помощью АСМ).

Эти стандарты обеспечивают traceability измерений, что критично в научных исследованиях и промышленности. Наши атомно-силовые микроскопы полностью соответствуют этим требованиям и поставляются с сертификатами.

Применение атомно-силовых микроскопов

АСМ широко используются в науке и промышленности благодаря универсальности:

  • Нанотехнологии и материаловедение: Изучение полимеров, композитов, тонких пленок, 2D-материалов (графен).
  • Полупроводниковая промышленность: Контроль шероховатости wafer, дефектов, размеров структур в микроэлектронике.
  • Биология и медицина: Исследование клеток, белков, ДНК, мембран, механических свойств тканей.
  • Фармацевтика и биотехнологии: Анализ наночастиц, лекарственных форм, взаимодействий молекул.
  • Другие области: Контроль качества покрытий, изучение трения и износа, криминалистика.

В промышленности АСМ применяются для неразрушающего контроля и разработки новых материалов. В исследованиях — для визуализации на атомном уровне.

Если вам нужен атомно-силовой микроскоп для решения конкретных задач — от базовых моделей до высокоточных систем — свяжитесь с нами. Мы предлагаем оборудование ведущих производителей, консультации и сервисное обслуживание. Инвестируйте в точность и инновации уже сегодня!


Атомно-силовой микроскоп Park NX10
Атомный силовой микроскоп Park NX10: точность и надежность в нанометрологии   Атомный силовой микроскоп Park NX10..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX12
Атомный силовой микроскоп Park Systems NX12: наноанализ в жидкой и воздушной среде Атомный силовой микроскоп Park Syste..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX20
NX20 — флагманский атомно-силовой микроскоп для нанометрологии и анализа отказов Атомно-силовой микроскоп Park NX..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX7
Атомный силовой микроскоп Park NX7: доступная нанометрология для научных и учебных лабораторий Компактный атомный силов..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп для малых образцов Park FX40
Park FX40 — самый передовой атомно-силовой микроскоп для малых образцов Park FX40 — новейшая разработка ком..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park FX200
Атомно-силовой микроскоп Park FX200: точность и надежность на наноуровне Атомно-силовой микроскоп Park FX200 — эт..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park FX300
Парк FX300 — передовой атомно-силовой микроскоп для образцов диаметром до 300 мм Атомно-силовой микроскоп Park FX..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX-Hivac
Атомный силовой микроскоп Park NX-Hivac: высоковакуумный наноанализ для чувствительных материалов Атомный силовой микро..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX15
Парк NX15 — универсальный инструмент нанометрологии для передовых исследований Атомно-силовой микроскоп Park NX15..
Закончился
0.00BYN
Атомно-силовой микроскоп Park NX20 300 mm
Park NX20 300 mm — ведущий инструмент нанометрологии для исследований и промышленности Атомно-силовой микроскоп P..
Закончился
0.00BYN
Показано с 1 по 10 из 10 (всего 1 страниц)