Аналитическое и исследовательское оборудование
Наличие:
Под заказ 90 дней
Закончился
0.00BYN

Парк NX15 — универсальный инструмент нанометрологии для передовых исследований

Атомно-силовой микроскоп Park NX15 представляет собой высокоточное и надежное решение для нанометрологических задач в самых разных областях науки и промышленности. Благодаря уникальной архитектуре и запатентованным технологиям, этот прибор обеспечивает беспрецедентную точность измерений, сохраняя целостность как образца, так и зонда. Park NX15 идеально подходит для исследований в области полупроводников, материаловедения, полимеров и биоинженерии.

Park NX15, атомно-силовой микроскоп, нанометрология, True Non-contact, ортогональное сканирование, Z-сканер, полупроводники, материалыедение, AFM, наноизмерения

 

Ключевые особенности Park NX15

Микроскоп Park NX15 построен на улучшенной механической платформе серии NX, которая обеспечивает высокую скорость и точность сканирования. Его система поддерживает полное покрытие пластин диаметром до 150 мм, что делает его особенно ценным для лабораторий, работающих с полупроводниковыми материалами. Основные преимущества включают:

  • Быстрый Z-сервопривод и высокая разрешающая способность
  • Улучшенная прямолинейность движения Z-сканера
  • Интегрированный оптический микроскоп с осевой оптикой
  • Модульная конструкция с возможностью расширения функционала
  • Простая и надежная замена зондов благодаря предварительно установленным чип-носителям
Park NX15, атомно-силовой микроскоп, нанометрология, True Non-contact, ортогональное сканирование, Z-сканер, полупроводники, материалыедение, AFM, наноизмерения

Park NX15, атомно-силовой микроскоп, нанометрология, True Non-contact, ортогональное сканирование, Z-сканер, полупроводники, материалыедение, AFM, наноизмерения

 

Технология True Non-contact™

Одной из ключевых инноваций Park NX15 является режим True Non-contact™ — эксклюзивная технология компании Park Systems. В отличие от традиционных методов, где зонд взаимодействует с поверхностью через контакт или прерывистое касание, True Non-contact™ использует силы притяжения Ван-дер-Ваальса для получения топографии поверхности. Это позволяет избежать повреждения как образца, так и острия зонда, особенно при работе с мягкими, хрупкими или легко деформируемыми материалами.

Park NX15, атомно-силовой микроскоп, нанометрология, True Non-contact, ортогональное сканирование, Z-сканер, полупроводники, материалыедение, AFM, наноизмерения

 

Ортогональная система сканирования

В отличие от классических АСМ с трубчатыми сканерами, Park NX15 использует ортогональную систему сканирования. Здесь движение по осям X и Y осуществляется гибким 2D-сканером, перемещающим образец, в то время как отдельный 1D-сканер управляет вертикальным перемещением зонда. Такая архитектура полностью исключает перекрестные помехи между осями и искажения изображения, особенно на больших площадях сканирования. Прямолинейность движения Z-сканера составляет менее 0,1% в рабочем диапазоне, а отклонение от оси — менее 5 нм даже при максимальном выдвижении 15 мкм.

Park NX15, атомно-силовой микроскоп, нанометрология, True Non-contact, ортогональное сканирование, Z-сканер, полупроводники, материалыедение, AFM, наноизмерения

 

Технические характеристики

Параметр Характеристика
 Максимальный размер образца   Пластины до 150 мм в диаметре
 Тип сканирования   Ортогональная система (XY — образец, Z — зонд)
 Режим работы   True Non-contact™, контактный, прерывистый контакт и др.
 Z-сканер   Стековый пьезоактуатор с датчиком деформации, диапазон до 15 мкм
 Прямолинейность Z-сканера   ≤ 0,1% в рабочем диапазоне
 Отклонение от оси Z   < 5 нм при 15 мкм
 Оптический микроскоп   Осевой, с программно управляемым LED-освещением
 Система замены зонда   Предустановленные чип-носители с кинематическим креплением
 Модульность   Слот расширения для подключения дополнительных модулей
 Лазерная система   Суперлюминесцентный диод, низкая когерентность, точная регулировка луча

 

Удобство и надежность в эксплуатации

Конструкция Park NX15 продумана до мелочей: от интуитивной регулировки лазерного луча с помощью ручек по осям X и Y до магнитной фиксации зонда, обеспечивающей повторяемость позиционирования. Предварительно выровненные чип-носители минимизируют риск повреждения кантилевера при замене, что особенно важно в условиях интенсивной лабораторной работы.

Модульная архитектура позволяет легко расширять функционал прибора: достаточно вставить соответствующий модуль в слот расширения, чтобы активировать новые режимы сканирования или аналитические возможности.

 

Применение

Park NX15 активно используется в:

  • Исследованиях полупроводниковых структур и микроэлектроники
  • Анализе наноматериалов и композитов
  • Изучении биологических образцов и мягких материалов
  • Контроле качества тонких пленок и покрытий
  • Разработке новых полимеров и наноструктурированных поверхностей

Благодаря сочетанию точности, надежности и удобства, Park NX15 стал эталонным инструментом для лабораторий, где важны воспроизводимость результатов и защита ценных образцов.