Аналитическое и исследовательское оборудование
Наличие:
Под заказ 90 дней
Закончился
0.00BYN

Парк FX300 — передовой атомно-силовой микроскоп для образцов диаметром до 300 мм

Атомно-силовой микроскоп Park FX300 представляет собой новейшее достижение компании Park Systems в области наноизмерений. Он разработан специально для исследований и промышленных задач, требующих высокоточной обработки крупных образцов диаметром до 300 мм. Благодаря уникальной конструкции, минимальному уровню шума, исключительно низкому тепловому дрейфу и повышенной механической стабильности, Park FX300 обеспечивает беспрецедентную точность и надежность в работе даже при самых сложных условиях.

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

Как и все микроскопы серии Park, FX300 оснащён ортогональной системой сканирования и запатентованной технологией True Non-contact™, что позволяет получать высокоразрешающие изображения без повреждения даже самых хрупких поверхностей. Автоматизация ключевых процессов — от замены зонда до настройки параметров сканирования — делает работу с прибором интуитивно понятной как для новичков, так и для опытных пользователей.

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

 

Технические характеристики Park FX300

Параметр Характеристика
 Максимальный размер образца   300 мм в диаметре
 Тип сканирования   Ортогональная система: 2D гибкий сканер XY + 1D Z-сканер
 Режим работы   True Non-contact™ (безконтактный режим на основе сил Ван-дер-Ваальса)
 Автоматическая замена зонда   Да, до 16 предустановленных зондов с QR-кодированием
 Автоматическая юстировка лазера   Да, с использованием системы распознавания канталевера и двухмоторного управления зеркалом
 Оптическая система   Осионная оптика с разрешением до 0.87 мкм, фиксированный лазерный луч через объектив
 Система позиционирования   Двухсервоприводная архитектура XY с двумя парами актуаторов и датчиков на каждой оси
 Тепловой дрейф   Минимизирован за счёт использования материалов с низким коэффициентом теплового расширения
 Безопасность   Кнопка аварийного отключения (EMO), сигнальная башня, фотоионизатор, опциональный фильтр воздуха
 Программное обеспечение   SmartScan™ с автоматической настройкой параметров и анализом данных

 

Инновационные технологии Park FX300

Ключевым преимуществом Park FX300 является его ортогональная система сканирования. В отличие от традиционных AFM с трубчатыми сканерами, подверженными перекосам и взаимному влиянию осей, FX300 использует гибкие сканеры: один — для перемещения образца по осям X и Y, другой — для независимого контроля движения зонда по оси Z. Это обеспечивает линейность, ортогональность и высокую скорость сканирования без искажений.

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

Для работы с большими образцами реализована двухсервоприводная архитектура XY-сканера. Два датчика положения и два актуатора на каждой оси компенсируют возможные вращательные отклонения патрона, гарантируя точность позиционирования по всей площади 300 × 300 мм².

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

 

Автоматизация и удобство эксплуатации

FX300 значительно упрощает рутинные операции. Система автоматической юстировки лазера использует камеру для распознавания формы и положения канталевера, после чего точно совмещает его с фокусом лазерного луча. Два прецизионных мотора корректируют положение зеркала, чтобы луч попадал точно в центр фотодетектора (PSPD). Это сокращает время подготовки и исключает ошибки при настройке.

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

Автоматический модуль замены зондов (ATX) вмещает до 16 предварительно установленных зондов. Каждый носитель помечен QR-кодом, содержащим данные о типе зонда, серийном номере, дате производства и спецификациях. Программное обеспечение SmartScan™ отображает эту информацию, позволяя пользователю выбрать нужный зонд одним кликом мыши.

Park FX300, атомно-силовой микроскоп, AFM 300 мм, True Non-contact, автоматическая замена зонда, ортогональный сканер, наноанализ, промышленный микроскоп, SmartScan, низкий тепловой дрейф, автоматическая юстировка лазера, Park Systems, AFM для полупроводников, крупноформатный AFM

 

Безопасность и соответствие промышленным стандартам

Park FX300 разработан с учётом требований промышленных лабораторий. Встроенный контроллер оборудования обеспечивает централизованное управление. Фотоионизатор эффективно устраняет статическое электричество с поверхности образца. Кнопка аварийного отключения (EMO) мгновенно останавливает работу системы, а сигнальная башня с звуковым оповещением информирует о текущем статусе прибора. Для особо чувствительных измерений доступна опция установки фильтрующего вентилятора, поддерживающего чистоту воздуха.

Park FX300 — это не просто атомно-силовой микроскоп, а комплексное решение для наноанализа крупных образцов в научных и производственных средах. Его сочетание передовых технологий, автоматизации и промышленной надёжности делает его идеальным выбором для лабораторий, работающих с полупроводниками, материалами, биологическими структурами и другими объектами, требующими высочайшей точности на наноуровне.