Атомный силовой микроскоп Park NX10: точность и надежность в нанометрологии
Атомный силовой микроскоп Park NX10 — это флагманское решение от компании Park Systems, разработанное специально для исследований малых образцов на наноуровне. Этот прибор сочетает в себе передовые технологии, высокую точность измерений и простоту эксплуатации, что делает его одним из самых востребованных инструментов в академических и промышленных лабораториях по всему миру.
 |  |
Основой уникальности Park NX10 являются запатентованная ортогональная система сканирования и режим True Non-contact™, которые практически полностью исключают артефакты, вызванные боковым смещением зонда, и обеспечивают бережное взаимодействие с образцом. Это особенно важно при работе с деликатными или сложными поверхностями, где даже минимальное механическое воздействие может повредить структуру.
Технические характеристики Park NX10
| Тип сканера | Ортогональная система: XY-сканер (2D) + Z-сканер (1D) |
| Режим сканирования | True Non-contact™ (бесконтактный режим на основе ван-дер-ваальсовых сил) |
| Прямолинейность Z-сканера | ≤ 0,1% в пределах рабочего диапазона; поперечное смещение < 5 нм при полном ходе 15 мкм |
| Скорость Z-серво | Высокая, обеспечивает быстрый вертикальный отклик |
| Уровень шума детектора Z | Исключительно низкий благодаря стекированному пьезоактуатору и датчику деформации |
| Оптический микроскоп | Коаксиальный, с программно управляемым LED-освещением |
| Лазерная система | Суперлюминесцентный диод с низкой когерентностью; точная регулировка луча по осям X и Y |
| Система замены зонда | Предустановленные чипы с кинематическим креплением и магнитной фиксацией |
| Модульность | Слот расширения для подключения дополнительных режимов и аксессуаров |
| Области применения | Наука о материалах, полимеры, биоинженерия, нанотехнологии, полупроводники |
Инновационные технологии Park NX10
Ортогональная система сканирования — ключевое преимущество Park NX10. В отличие от традиционных АСМ с трубчатыми сканерами, где наблюдается перекрестное влияние осей и искажения изображения, Park NX10 использует гибкие направляющие: XY-сканер перемещает образец строго в горизонтальной плоскости, а Z-сканер независимо управляет вертикальным положением зонда. Такая конструкция гарантирует линейность, ортогональность и высокую динамику сканирования даже на больших площадях.
Режим True Non-contact™ позволяет получать топографию поверхности за счет регистрации слабых притягивающих сил между острием зонда и образцом. Это исключает износ как самого зонда, так и исследуемой поверхности, обеспечивая повторяемость и точность измерений без повреждений.
Удобство и надежность в повседневной работе
Конструкция Park NX10 продумана до мелочей. Предустановленные зонды с кинематическим креплением значительно упрощают замену, снижая риск поломки кантилевера. Три прецизионных шарика и магнитная фиксация обеспечивают точное и повторяемое позиционирование. Лазерная система с интуитивной регулировкой позволяет быстро выровнять луч после замены зонда.
Коаксиальный оптический микроскоп с ярким LED-освещением дает четкое изображение поверхности образца в реальном времени, что упрощает навигацию и выбор области сканирования. Модульная архитектура с универсальным слотом расширения позволяет легко подключать дополнительные функции — от электрических до механических режимов анализа.
Благодаря компактной сборке Z-сканера, включающей пружину предварительного натяжения, кинематический штифт и пьезоактуатор, Park NX10 демонстрирует минимальный дрейф и высокую стабильность вертикального движения. Это критически важно для получения достоверных данных в длительных экспериментах.
Независимо от того, работаете ли вы с ультрагладкими пленками, шероховатыми полимерами или биологическими структурами, Park NX10 обеспечивает линейность шероховатости и высокое разрешение при любом размере сканирования — от нескольких нанометров до десятков микрометров.