Аналитическое и исследовательское оборудование
Наличие:
Под заказ 90 дней
Закончился
0.00BYN

Атомный силовой микроскоп Park Systems NX12: наноанализ в жидкой и воздушной среде

Атомный силовой микроскоп Park Systems NX12 представляет собой высокотехнологичную платформу, разработанную специально для исследований в области материаловедения, электрохимии и биохимии. Уникальная особенность этого прибора — способность выполнять наноразмерную визуализацию и характеризацию свойств образцов как в жидкой, так и в атмосферной среде. Благодаря интеграции методов сканирующей зондовой микроскопии с инвертированной оптической микроскопией, NX12 обеспечивает комплексный анализ динамических процессов на молекулярном уровне.

В основе NX12 лежит запатентованная технология True Non-contact™ от Park Systems и ортогональная система сканирования, дополненная методами на основе нанопипеток. Это позволяет не только получать точную топографию поверхности, но и проводить корреляционные измерения, объединяющие структурную, механическую, электрическую и оптическую информацию по одному и тому же образцу.

 

Ключевые возможности и преимущества

NX12 поддерживает широкий спектр специализированных экспериментов, включая:

  • SICM — неинвазивное сканирование живых клеток в жидкости;
  • SECM/SECCM — картографирование локальной электрохимической активности с высоким разрешением;
  • Контролируемую газовую и температурную среду в цифровой камере, обеспечивающей стабильные условия для воспроизводимых результатов.

Интеграция с инвертированной оптической микроскопией даёт исследователям возможность совмещать широкое поле зрения оптики с нанометровым разрешением АСМ. Такой подход особенно ценен при работе с прозрачными образцами и в биологических исследованиях, где важно одновременно видеть как клеточные структуры, так и детали на наноуровне.

атомный силовой микроскоп, Park Systems NX12, True Non-contact, SICM, SECM, SECCM, нанопипетка, ортогональное сканирование, инвертированная микроскопия, наноанализ, электрохимия, биохимия

 

Технические характеристики

Параметр Характеристика
 Режим сканирования   True Non-contact™ (истинный бесконтактный режим)
 Система сканирования   Ортогональная: XY-сканер на основе гибких шарниров, Z-сканер с пьезоактуатором и датчиком деформации
 Точность вертикального сканирования   Прямолинейность Z-сканирования ≤ 0,1 %; отклонение по оси менее 5 нм при ходе 15 мкм
 Оптическая система   Интеграция с инвертированной оптической микроскопией; суперлюминесцентный диод с низкой когерентностью
 Поддерживаемые методы   AFM, SICM, SICM-SECM, SECCM
 Условия эксплуатации   Работа в жидкой и воздушной среде; цифровая климатическая камера с контролем температуры и газовой    атмосферы
 Система выравнивания лазера   Ручная регулировка по осям X и Y; автоматическая фокусировка на кантилевер
 Датчики обратной связи   Оптические датчики (XY), датчик деформации (Z)

 

Ортогональная система сканирования

В отличие от традиционных АСМ с трубчатыми сканерами, NX12 использует раздельную систему: XY-движение осуществляется гибким сканером, а Z-движение — независимым вертикальным сканером. Это исключает перекрёстные помехи между осями и обеспечивает высокую линейность сканирования даже на больших площадях. Благодаря прямой оптической обратной связи и компактной конструкции с предварительной нагрузкой, система демонстрирует минимальный дрейф и высокую стабильность измерений.

атомный силовой микроскоп, Park Systems NX12, True Non-contact, SICM, SECM, SECCM, нанопипетка, ортогональное сканирование, инвертированная микроскопия, наноанализ, электрохимия, биохимия

атомный силовой микроскоп, Park Systems NX12, True Non-contact, SICM, SECM, SECCM, нанопипетка, ортогональное сканирование, инвертированная микроскопия, наноанализ, электрохимия, биохимия

Технология True Non-contact™

Запатентованный режим True Non-contact™ основан на регистрации слабых ван-дер-ваальсовых сил притяжения между остриём зонда и поверхностью образца. Это позволяет избежать повреждения мягких или чувствительных материалов, сохраняя при этом высокое разрешение и точность. Особенно актуально для биологических образцов, полимеров и других деликатных структур.

атомный силовой микроскоп, Park Systems NX12, True Non-contact, SICM, SECM, SECCM, нанопипетка, ортогональное сканирование, инвертированная микроскопия, наноанализ, электрохимия, биохимия

 

Нанопипеточные методы: выход за рамки топографии

Платформа NX12 расширяет возможности классического АСМ за счёт применения нанопипеток:

  • SICM — сканирование топографии мягких образцов в жидкости без механического контакта;
  • SICM-SECM — одновременное картирование топографии и электрохимической активности;
  • SECCM — локальный анализ электрохимических реакций через мениск нанопипетки без полного погружения образца.

Эти методы открывают доступ к изучению ионных потоков, каталитической активности, коррозионных процессов и других явлений на наноуровне, что делает NX12 универсальным инструментом для междисциплинарных исследований.

Атомный силовой микроскоп Park Systems NX12 — это передовое решение для учёных, которым необходима максимальная точность, гибкость и надёжность в условиях реальных экспериментов. Благодаря сочетанию бесконтактного сканирования, ортогональной механики, оптической корреляции и нанопипеточных технологий, NX12 задаёт новые стандарты в наноаналитике и открывает путь к прорывным открытиям в науке и промышленности.