NX20 — флагманский атомно-силовой микроскоп для нанометрологии и анализа отказов
Атомно-силовой микроскоп Park NX20 представляет собой передовое решение в области нанометрологии, разработанное специально для исследований крупных образцов и анализа отказов. Этот прибор завоевал признание как в академических, так и в промышленных лабораториях по всему миру благодаря своей беспрецедентной точности, надежности и простоте эксплуатации. Park NX20 — это первая модель от Park Systems, поддерживающая образцы диаметром до 200 мм, что делает её идеальной платформой для сложных задач в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биоинженерии и полимерных технологиях.
Ключевым преимуществом Park NX20 является использование запатентованной технологии ортогонального сканирования и режима True Non-contact™, которые практически полностью исключают артефакты поперечного движения и обеспечивают бережное взаимодействие с образцом и зондом. Благодаря этому достигается высококачественная, свободная от искажений визуализация даже самых деликатных или сложных поверхностей на наноуровне.
Технические характеристики Park NX20
| Тип образца | Образцы до 200 мм (включая пластины) |
| Сканер XY | Двухсервоприводная архитектура с двумя парами актуаторов и датчиков на каждой оси; рабочая область 200 × 200 мм² |
| Сканер Z | Стековый пьезоактуатор с датчиком деформации; ход до 15 мкм |
| Прямолинейность Z-сканера | Отклонение менее 0,1% в рабочем диапазоне; паразитное движение менее 5 нм |
| Разрешение по XY | 0,6 мкм (шаг двигателя) |
| Оптический микроскоп | Высокоточный коаксиальный микроскоп с LED-подсветкой, управляемой ПО |
| Лазерная система | Суперлюминесцентный диод с низкой когерентностью; регулировка луча по осям X и Y |
| Система замены зонда | Предустановленные картриджи с кинематическим креплением; магнитная фиксация |
| Режим сканирования | True Non-contact™ (регистрация сил Ван-дер-Ваальса) |
| Модульность | Слот расширения для подключения дополнительных модулей и режимов AFM |
Инновационные технологии Park NX20
Ортогональная система сканирования устраняет перекосы и кросс-talk между осями, характерные для традиционных трубчатых сканеров. В Park NX20 используется гибкая конструкция: 2D-сканер перемещает образец в плоскости XY, а отдельный 1D-сканер управляет вертикальным движением зонда. Это обеспечивает линейность, ортогональность и высокую динамику сканирования даже на больших площадях.

Режим True Non-contact™ — эксклюзивная технология Park Systems, позволяющая получать топографию поверхности за счёт регистрации слабых притягивающих сил Ван- der-Ваальса между остриём и образцом. Такой подход минимизирует износ зонда и предотвращает повреждение чувствительных поверхностей.

Быстрая система Z-серво с комбинацией стекового пьезоактуатора и датчика деформации обеспечивает высокоскоростное и высокоточное сканирование на поверхностях любой шероховатости — от ультраплоских до сильно рельефных. Линейность измерений сохраняется независимо от размера сканирования.

Коаксиальный оптический микроскоп с программно управляемой LED-подсветкой позволяет в реальном времени наблюдать как образец, так и зонд, что значительно упрощает выравнивание и автоматический подход острия к поверхности.

Предустановленные зонды в кинематических картриджах обеспечивают повторяемость позиционирования и снижают риск повреждения кантилевера при замене. Магнитная фиксация и три прецизионных шарика гарантируют надёжную и точную установку.
Благодаря модульной конструкции Park NX20 легко адаптируется под специфические задачи: достаточно вставить соответствующий модуль в слот расширения, чтобы активировать дополнительные режимы AFM, такие как электрическая, механическая или термическая нанометрология.
Атомно-силовой микроскоп Park NX20 — не просто инструмент, а полноценная платформа для передовых исследований, сочетающая научную строгость, инженерную надёжность и удобство повседневной работы.