Атомный силовой микроскоп Park NX7: доступная нанометрология для научных и учебных лабораторий
Компактный атомный силовой микроскоп Park NX7 создан для того, чтобы сделать высокоточные наноизмерения доступными в академической среде. Благодаря настольному формату и продуманной эргономике, он идеально подходит для университетских лабораторий, исследовательских центров и других учреждений с ограниченным пространством, не жертвуя при этом качеством и надежностью результатов.
Несмотря на компактные габариты, Park NX7 оснащен теми же передовыми технологиями, что и флагманские модели Park Systems: запатентованной ортогональной системой сканирования и уникальным режимом True Non-contact™. Эти решения обеспечивают высокое разрешение, минимальные артефакты и бережное взаимодействие с образцом — даже при работе с деликатными биологическими структурами или мягкими полимерами.
Технические характеристики Park NX7
| Тип прибора | Компактный атомный силовой микроскоп (AFM), настольного типа |
| Система сканирования | Ортогональная: 2D XY-сканер + независимый 1D Z-сканер с гибкими направляющими |
| Режим работы | True Non-contact™ (регистрация притягивающих ван-дер-ваальсовых сил) |
| Прямолинейность Z-сканера | ≤ 0,1% в рабочем диапазоне; поперечное отклонение < 5 нм при ходе 15 мкм |
| Z-серво скорость | Высокая — обеспечивает быстрый вертикальный отклик |
| Уровень шума | Исключительно низкий благодаря стекированному пьезоактуатору и датчику деформации |
| Оптическая система | Коаксиальный оптический микроскоп с программно управляемым LED-освещением |
| Лазерная система | Суперлюминесцентный диод с низкой когерентностью; регулировка луча по X/Y осям |
| Система замены зонда | Предустановленные чипы с кинематическим креплением и магнитной фиксацией |
| Области применения | Материаловедение, полимеры, биоинженерия, нанотехнологии, обучение |
Технологии, обеспечивающие точность и удобство
Как и все микроскопы серии NX, Park NX7 использует ортогональную систему сканирования на основе гибких шарниров. В отличие от традиционных трубчатых сканеров, где наблюдается перекос и взаимное влияние осей, здесь XY-движение образца и Z-движение зонда полностью разделены. Это гарантирует чистую, линейную топографию без искажений даже при больших полях сканирования.
Режим True Non-contact™ позволяет получать изображения за счет регистрации слабых притягивающих сил между острием зонда и поверхностью. Такой подход исключает износ как зонда, так и образца, обеспечивая повторяемость измерений и сохранность структуры исследуемых материалов.
Эргономика и надежность для учебных и исследовательских задач
Конструкция Park NX7 упрощает повседневную работу. Предустановленные зонды с кинематическим креплением снижают риск повреждения кантилевера при замене. Три прецизионных шарика и магнитное основание обеспечивают точное и воспроизводимое позиционирование.
Коаксиальный оптический микроскоп с ярким LED-освещением позволяет точно наводиться на интересующую область образца. Лазерная система с интуитивной регулировкой по осям X и Y ускоряет процесс выравнивания после замены зонда.
Благодаря компактной сборке Z-сканера — с пружиной предварительного натяжения, кинематическим штифтом и пьезоэлементом — прибор демонстрирует минимальный дрейф и высокую стабильность вертикального перемещения. Это особенно важно при длительных измерениях или работе с чувствительными образцами.
Park NX7 сохраняет линейность шероховатости независимо от размера сканирования — от нескольких нанометров до десятков микрометров. Это делает его универсальным инструментом как для обучения студентов основам нанометрологии, так и для проведения серьезных научных исследований в области материаловедения, биотехнологий и наноинженерии.
