Park FX40 — самый передовой атомно-силовой микроскоп для малых образцов
Park FX40 — новейшая разработка компании Park Systems в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), созданная для высокоточного сканирования малых образцов. Этот прибор сочетает в себе низкий уровень шума, минимальный тепловой дрейф и повышенную механическую стабильность, что обеспечивает беспрецедентную точность и надежность измерений на наноуровне.
Как и все микроскопы Park, FX40 оснащён ортогональной системой сканирования и работает в запатентованном режиме True Non-contact™, позволяя получать высокоразрешающие изображения даже самых хрупких и чувствительных материалов — от биологических мембран до тонких полупроводниковых плёнок — без их повреждения.
 | .png) |
Технические характеристики Park FX40
| Тип сканирования | Ортогональная система: XY-сканер (образец) + отдельный Z-сканер (зонд) |
| Режим зондирования | True Non-contact™ (регистрация сил притяжения Ван-дер-Ваальса) |
| Уровень шума | Сверхнизкий (суб-пикометровый по оси Z) |
| Тепловой дрейф | Минимизирован за счёт использования материалов с низким коэффициентом теплового расширения |
| Оптическая система | Необструктивный микроскоп с разрешением до 0,87 мкм; интегрированная камера обзора образца |
| Лазерная система | Волоконно-связанный суперлюминесцентный диод (SLD), фиксированный в центре поля зрения |
| Автоматизация | Автоматическая юстировка лазерного луча, автоматическая замена зонда (ATX), распознавание QR-кодов на чипах |
| Модуль замены зондов | Хранит до 8 предварительно установленных зондов с кинематическим креплением |
| Контроллер | FX AFM Controller с 8-канальным lock-in усилителем и полосой пропускания 5 МГц |
| Программное обеспечение | Park SmartScan™ с поддержкой AI, визуальной навигацией и управлением через интерфейс «точка-и-клик» |
| Механическая конструкция | Оптический микроскоп отделён от Z-столика; Z-столик усилен крестообразными направляющими и двумя опорными блоками |
.png)
Особое внимание в конструкции Park FX40 уделено снижению механических помех. Оптический микроскоп физически отделён от Z-столика, что уменьшает его массу и повышает устойчивость к вибрациям. Сам Z-столик выполнен с использованием жёстких крестообразных направляющих и двух опорных блоков, что обеспечивает стабильность даже при длительных измерениях.
.jpg)
Система автоматической юстировки лазера использует видеораспознавание: камера определяет положение кантилевера, после чего прецизионные моторы перемещают оптическую платформу и регулируют зеркало так, чтобы лазерный луч точно попадал в центр фотодетектора. Это исключает необходимость ручной настройки и гарантирует повторяемость результатов.
.jpg)
Модуль автоматической замены зондов (ATX) значительно упрощает эксплуатацию. Каждый зонд установлен в специальный чип-носитель с QR-кодом, содержащим данные о типе, серийном номере и характеристиках. При выборе зонда в программе SmartScan™ система автоматически извлекает нужный чип и устанавливает его с микронной точностью благодаря кинематическому креплению и магнитной фиксации.
.gif)
.gif)
Благодаря продуманной эргономике, передовым технологиям и высокой степени автоматизации, Park FX40 идеально подходит как для научных исследований, так и для промышленного контроля качества, где важны скорость, точность и воспроизводимость наноизмерений.