Аналитическое и исследовательское оборудование
+7 (4812) 51-52-82
0

Ваша корзина пуста!
Каталог оборудования

Толщиномер XU-100 для анализа покрытий и сплавов

Толщиномер XU-100 для анализа покрытий и сплавов
Наличие:
Под заказ 90 дней
Закончился
0.00BYN

Специализированный толщиномер XU-100: точный анализ покрытий и сплавов

Толщиномер XU-100 — это высокоточный аналитический прибор нового поколения, разработанный для комплексного контроля качества в различных отраслях промышленности. Благодаря инновационному нижнему расположению источника рентгеновского излучения, устройство обеспечивает быстрый и надежный анализ толщины покрытий, состава сплавов и соответствия нормам RoHS. Особенно эффективен при работе с плоскими деталями, изделиями сложной формы и даже растворами для гальванических ванн.

толщиномер, анализ покрытий, рентгеновский спектрометр, XU-100, RoHS, измерение толщины, сплавы, гальваника, микрофокусный анализ, EFP алгоритм

Прибор оснащен уникальным алгоритмом EFP, разработанным собственными силами компании, что позволяет автоматически интерпретировать результаты измерений и минимизировать вероятность ошибок оператора. Интуитивно понятное программное обеспечение сопровождает пользователя на каждом этапе — от калибровки до выдачи итогового отчета, делая процесс максимально простым даже для новичков.

 

Преимущества модели XU-100

  • Высокая скорость измерения: результаты доступны уже через 1 секунду после установки образца.
  • Функция изменения фокусного расстояния: позволяет проводить анализ в углублениях и на неровных поверхностях с глубиной до 30 мм.
  • Микроточная система перемещения: шаговая платформа с точностью до микрона обеспечивает точное позиционирование мелких деталей.
  • Экономичность и долговечность: модульная конструкция, режим автоматического сна и энергосберегающая фокусировка значительно продлевают срок службы прибора.

 

Области применения

XU-100 активно используется в следующих сферах:

  • Производство крепежных изделий (ZnAl/Fe, Zn/Fe, ZnNi/Fe и др.)

толщиномер, анализ покрытий, рентгеновский спектрометр, XU-100, RoHS, измерение толщины, сплавы, гальваника, микрофокусный анализ, EFP алгоритм

  • Изготовление металлической фурнитуры (Sn/Cu/Fe, Ni/Cu, Ni/Cu/Fe и пр.)

толщиномер, анализ покрытий, рентгеновский спектрометр, XU-100, RoHS, измерение толщины, сплавы, гальваника, микрофокусный анализ, EFP алгоритм

  • Контроль состава гальванических растворов (Ni sol, Au sol)

толщиномер, анализ покрытий, рентгеновский спектрометр, XU-100, RoHS, измерение толщины, сплавы, гальваника, микрофокусный анализ, EFP алгоритм

  • Керамическая металлизация (Ni/MoMn/керамика)

толщиномер, анализ покрытий, рентгеновский спектрометр, XU-100, RoHS, измерение толщины, сплавы, гальваника, микрофокусный анализ, EFP алгоритм

 

Технические характеристики

Модель XU-100
Диапазон измеряемых элементов Cl(17)/Al(13) – U(92)
Диапазон анализа покрытий Li(3) – U(92)
RoHS Опционально
Алгоритм Собственный EFP-алгоритм
Рентгеновская трубка Микрофокусная
Коллиматоры Ø0.1 мм / Ø0.2 мм / Ø0.5 мм / Ø5 мм (4 варианта на выбор)
Детектор Pro-SD процессор + PC/DPP + FAST SDD (опционально)
Фильтры Встроенный многопозиционный переключаемый блок фильтров
Технология микрофокусировки Расходимость пятна на минимальном расстоянии — 10%
Рабочее расстояние С компенсацией расстояния, до 30 мм (для анализа рельефных образцов)
Наблюдение за образцом Цветная CCD-камера 1/2.7”, с функцией зума
Фокусировка Ручная, с высокочувствительной оптикой
Увеличение Оптическое: 38–46×, цифровое: 40–200×
Габариты прибора 550 мм × 360 мм × 410 мм
Размеры рабочей камеры 400 мм × 320 мм × 150 мм
Перемещение стола Опционально: высокоточная ручная XY-платформа
Ход платформы 50 мм × 50 мм

 

Толщиномер XU-100 сочетает в себе передовые технологии, надежность и удобство эксплуатации, что делает его идеальным решением для лабораторий, производственных предприятий и сервисных центров, где требуется высокая точность и скорость анализа.