Высокоточный толщиномер XD-1000: решение для сложных промышленных задач
Толщиномер XD-1000 — это современный рентгеновский флуоресцентный спектрометр с верхним расположением источника излучения, разработанный для комплексного анализа толщины покрытий и состава материалов в самых требовательных отраслях. Благодаря уникальной конструкции и передовым технологиям, прибор идеально подходит для измерения крупногабаритных изделий, деталей со сложным рельефом, а также для автоматизированного контроля множества мелких компонентов.
.jpg)
Особое преимущество модели — возможность анализа не только твердых образцов, но и жидких растворов, включая гальванические ванны. Это делает XD-1000 универсальным инструментом для предприятий, где требуется одновременный контроль как входящих материалов, так и готовой продукции.
Ключевые преимущества модели XD-1000
- Верхнее расположение источника: обеспечивает беспрепятственный доступ к крупным и нестандартным деталям.
- Глубокий анализ рельефа: благодаря функции компенсации расстояния возможно измерение в углублениях глубиной до 90 мм.
- Высокая точность и стабильность: интегрированная вертикальная оптическая система и продвинутые алгоритмы обработки сигналов минимизируют погрешности.
- Автоматизация процессов: опциональная автоматическая XY-платформа позволяет выполнять серийные измерения без участия оператора.
- Долговечность и энергоэффективность: модульная конструкция, режим автоматического сна и энергосберегающая фокусировка значительно увеличивают срок службы прибора.
Области применения
XD-1000 активно используется в следующих отраслях:
- 5G-коммуникации: Ag/Al и другие многослойные покрытия
.jpg)
- Энергетика: анализ контактов и проводников (Ag/Sn и др.)
.jpg)
- Автомобильная промышленность: Zn/Fe, ZnNi/Fe, Cr/Ni/Cu/ABS
.jpg)
- Сантехника и интерьер: декоративные и защитные покрытия Cr/Ni/CuZn, Cr/Ni/Cu/ABS
.jpg)
Технические характеристики
| Модель | XD-1000 |
| Диапазон измеряемых элементов | Cl(17)/Al(13) – U(92) |
| Диапазон анализа покрытий | Li(3) – U(92) |
| Алгоритм | Собственный EFP-алгоритм |
| Программное обеспечение | Стандарт: анализ до 5 слоёв и 10 элементов; опционально — до 23 слоёв и 24 элементов |
| Обнаружение одинаковых элементов в разных слоях | В стандартной комплектации |
| Время анализа | 1–200 секунд (настраивается) |
| Рентгеновская трубка | Микрофокусная (опционально — усиленная) |
| Коллиматоры | 6 вариантов на выбор: □0.1×0.3 мм, Ø0.1 мм, Ø0.2 мм, Ø0.3 мм, □0.03×0.2 мм, Ø0.5 мм |
| Микрофокусная технология | Расходимость пятна на минимальном расстоянии — менее 10% |
| Измерительное расстояние | С компенсацией расстояния; глубина анализа углублений — до 90 мм |
| Наблюдение за образцом | Цветная CCD-камера 1/2.7” с функцией зума |
| Фокусировка | Бесконтактная автоматическая (опционально — лазерная) |
| Сигнал и прием | Pro-SD процессор + PC; опционально: DPP + FAST SDD |
| Перемещение платформы | Ручная XY-платформа (опционально — автоматическая высокоточная) |
| Габариты прибора | 550 мм × 760 мм × 635 мм |
| Вес | 120 кг |
| Соответствие стандартам | DIN ISO 3497, ASTM B568 |
Толщиномер XD-1000 сочетает в себе высокую производительность, надежность и гибкость настройки, что делает его незаменимым решением для предприятий, работающих в условиях высоких требований к качеству и точности. Он обеспечивает полный контроль над процессами нанесения покрытий и соответствует международным стандартам, что особенно важно для экспортоориентированных производств.