-500x400.jpg "Анализатор драгоценных металлов XTU-4C")
Точный анализатор драгоценных металлов XTU-4C — микроточность и надежность для ювелирной и электронной промышленности
Анализатор XTU-4C — это высокоточный рентгеновский спектрометр, специально разработанный для измерения толщины покрытий и определения состава сплавов в микроскопических образцах. Прибор идеально подходит для ювелирных мастерских, производителей электроники, предприятий по переработке драгоценных металлов и лабораторий контроля качества. Благодаря технологии микрофокусировки, собственному алгоритму EFP и уникальной системе компенсации расстояния, XTU-4C обеспечивает беспрецедентную точность даже при работе с площадями измерения всего 0,002 мм².
Ключевые технологические преимущества
- Микрофокусная рентгеновская система — позволяет проводить анализ на сверхмалых участках, включая контактные площадки микросхем, тончайшие цепочки и миниатюрные ювелирные изделия.
- Алгоритм EFP (Empirical Fundamental Parameters) — обеспечивает точное измерение многослойных структур, даже если один и тот же элемент присутствует в нескольких слоях или в виде сплава.
- Система компенсации расстояния до 30 мм — даёт возможность анализировать изделия со сложной геометрией: вогнутые, выпуклые, рельефные поверхности без потери точности.
- Высокоточные направляющие XY — обеспечивают микронную точность позиционирования, что критично при многоточечном анализе или сканировании мелких деталей.
- Продвинутая система обработки спектра — снижает влияние энергетически близких элементов и повышает чувствительность при низких концентрациях.
.jpg)
.jpg)
Технические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модель | XTU-4C |
| Диапазон элементов (покрытия) | Li(3) – U(92) |
| Диапазон элементов (состав) | Cl(17) – U(92) |
| Анализ покрытий | До 23 слоёв, 24 элемента; одинаковые элементы в разных слоях |
| EFP-алгоритм | В стандартной комплектации |
| Время анализа | 1–200 секунд |
| Детектор и процессор | Pro-SD процессор + ПК |
| Рентгеновская трубка | Микрофокусная усиленная |
| Коллиматоры | φ0.05 мм, φ0.1 мм, φ0.2 мм, □0.03×0.2 мм (автоматическое переключение) |
| Минимальная площадь измерения | 0,002 мм² |
| Расстояние измерения | 0–30 мм с компенсацией расстояния |
| Фокусировка | Ручная, с высокочувствительной камерой |
| Габариты прибора | 545 × 385 × 430 мм |
| Размеры камеры образца | 430 × 340 × 180 мм |
| Подвижность стола | Ручные прецизионные направляющие XY, ход 50 × 50 мм |
| Масса | 48 кг |
| Комплектация | Компьютер, принтер, чемодан с аксессуарами, эталонные образцы (12 элементов, общие), стакан для анализа электролита (опционально) |
| Соответствие стандартам | DIN ISO 3497, ASTM B 568 |
Области применения
XTU-4C активно используется в следующих сферах:
- Ювелирная промышленность — точное определение пробы золота (18K, 14K и др.), серебра (925 пробы), платины и палладия, а также анализ многослойных покрытий (Au/Pd/Ag).
- Электроника — контроль толщины золота, олова, никеля и других покрытий на контактах, выводах и печатных платах (например, Au/Ni/CuSn, Sn/Ni/Ag).
- Производство постоянных магнитов — анализ сложных структур, таких как Ni/Cu/Ni/NdFeB.
- Переработка драгоценных металлов — быстрая идентификация содержания Au, Ag, Pd в ломе и отходах.
- Научные исследования — микрорегиональный анализ тонких пленок и нанопокрытий.
| | |
.jpg)
.jpg)
Программное обеспечение и удобство эксплуатации
Прибор оснащён закрытой программной платформой с автоматической диагностикой, подсказками по калибровке и защитой от ошибок оператора. Интерфейс интуитивно понятен, а результаты анализа сохраняются в защищённой базе данных с возможностью экспорта в PDF или Excel.
XTU-4C — это профессиональный инструмент для тех, кто требует максимальной точности при работе с микроскопическими образцами. Его уникальная комбинация микрофокусировки, продвинутого алгоритма EFP и надёжной механики делает его незаменимым в ювелирной, электронной и научной сферах. Этот анализатор не просто измеряет — он раскрывает истинный состав даже самых сложных материалов.