Автоматизированный спектрометр XTD с увеличенным ходом — решение для массового анализа сложных изделий
Спектрометр XTD — это высокопроизводительный автоматизированный рентгеновский анализатор, разработанный специально для контроля качества и лабораторного анализа изделий со сложной геометрией: сантехнических изделий, печатных плат и прецизионных электронных деталей. Благодаря сочетанию микрофокусной рентгеновской технологии, собственного алгоритма EFP и полностью программируемой измерительной платформы, XTD обеспечивает точный, быстрый и безотказный анализ даже при обработке сотен образцов подряд.
Ключевые технологические преимущества
- Микрофокусная рентгеновская система — минимальная площадь измерения всего 0,002 мм² позволяет анализировать микроскопические контактные площадки, тончайшие дорожки и мелкие декоративные элементы.
- Автоматическая программируемая платформа — уникальная система перемещения с увеличенным ходом позволяет выполнять последовательный анализ сотен точек или образцов без участия оператора.
- Глубокая компенсация расстояния до 90 мм — прибор способен проводить бесконтактный анализ глубоких впадин, резьбовых отверстий, внутренних полостей и других труднодоступных зон.
- Алгоритм EFP (Empirical Fundamental Parameters) — обеспечивает точное измерение многослойных структур, включая случаи, когда один и тот же элемент (например, никель) присутствует в нескольких слоях (Ni/Cu/Ni/FeNdB).
- Высокая чувствительность — предел обнаружения для покрытий составляет всего 0,005 мкм, что делает прибор незаменимым в высокоточных отраслях.
Технические характеристики
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Модель | XTD |
| Диапазон элементов (состав) | Cl(17) – U(92) |
| Диапазон элементов (покрытия) | Li(3) – U(92) |
| Анализ покрытий | До 23 слоёв, 24 элемента; одинаковые элементы в разных слоях |
| Предел обнаружения (покрытия) | 0,005 мкм |
| EFP-алгоритм | В стандартной комплектации |
| Минимальная площадь измерения | 0,002 мм² |
| Расстояние измерения | 0–90 мм с компенсацией расстояния |
| Фокусировка | Ручная, с высокочувствительной камерой |
| Платформа | Полностью автоматическая, программируемая, с увеличенным ходом |
| Коллиматоры | 4 коллиматора, автоматическое переключение |
| Микрофокусная трубка | Да, усиленная |
| Программное обеспечение | Закрытая платформа с автоматической диагностикой, подсказками и защитой от ошибок |
| Технология фокусировки | Микросветовая система с рассеиванием пятна <10% на минимальном расстоянии |
| Соответствие стандартам | DIN ISO 3497, ASTM B 568 |
Области применения
XTD особенно востребован в следующих отраслях:
- Производство керамических изделий и сантехники — контроль толщины хрома, никеля, меди на смесителях, ручках, крепежах и декоративных элементах.
- Электроника и PCB — анализ покрытий на выводах, контактных площадках, BGA-компонентах и гибких платах.
- Производство постоянных магнитов — точное измерение многослойных систем, например Ni/Cu/Ni на NdFeB-магнитах.
- Автомобильная промышленность — контроль антикоррозионных покрытий на деталях с рельефной поверхностью.
- Лаборатории входного контроля — автоматизированный скрининг партий продукции без участия оператора.
Программное обеспечение и надёжность
Прибор оснащён интеллектуальной закрытой программной платформой, которая автоматически диагностирует неисправности, предлагает шаги калибровки и предотвращает ошибки пользователя. Все результаты сохраняются в защищённой базе данных с возможностью экспорта в Excel, PDF или интеграции в ERP-системы.
XTD — это не просто спектрометр, а полноценная автоматизированная аналитическая станция для предприятий, где требуется высокая производительность, точность и надёжность. Его уникальная способность работать с глубокими и сложными изделиями, а также выполнять массовый анализ без участия человека, делает его стратегическим оборудованием для современных производств и лабораторий.