X-50 XRF (X-ray fluorescence)

анализатор или РФА анализатор

Детектор X-50 использует диодную технологию PiN, которая использовалась рентгенофлуоресцентными  спектрометрами предыдущего поколения до появления кремниевых дрейфовых детекторов. Технология PiN обрабатывает в 10–20 раз более низкую скорость рентгеновского излучения, чем кремниевые дрейфовые детекторы, и имеет разрешение примерно на 100 эВ меньше (ширина больше). Однако для многих приложений, таких как базовая сортировка нержавеющих, жаропрочных и медных сплавов или анализ неблагородных или тяжелых металлов в почвах, рудах, порошках и т. д., технология PiN является удовлетворительной. Портативный РФА спектрометр X-50 НЕ измеряет Mg, Al или Si, а в некоторых материалах может измерять P и S на уровне 1%. Пределы обнаружения будут в 5 раз выше (повышены) по сравнению с SDD версиями X. Однако X-50 имеет привлекательную цену для хорошо работающих приложений. X-50 включает в себя такую ​​же усовершенствованную рентгеновскую трубку, как и другие модели X (работает при максимальном напряжении 40 кВ), встроенная камера, видео и платформа ОС Android. X-50 доступен для сплавов, экологических, горнодобывающих/разведочных, промышленных и настраиваемых пользователем приложений. Анализаторы могут быть откалиброваны на заводе с использованием основных параметров, нормализации по Комптону (метод EPA 6200) или эмпирических калибровок, определяемых пользователем.

Стандартный пакет элементов

Стандартный набор элементов для X-50 показан в таблице ниже.
Требуются другие элементы? Просто уточните! Мы часто добавляем или заменяем элементы для конкретных приложений.