Анализатор толщины пленки Tanaka ATG-100W: высокоточное решение для контроля покрытий
Анализатор толщины пленки Tanaka ATG-100W представляет собой современное оборудование, разработанное для неразрушающего анализа толщины и состава одно- и многослойных покрытий на различных подложках. Устройство основано на методе рентгеновской флуоресцентной спектрометрии (XRF), что обеспечивает высокую точность, воспроизводимость и скорость измерений без повреждения образца.
Прибор широко применяется в таких отраслях, как электроника, автомобилестроение, ювелирное производство, а также в контроле качества гальванических и защитных покрытий. Благодаря компактным габаритам и интуитивно понятному интерфейсу, ATG-100W идеально подходит как для лабораторного, так и для производственного использования.
Преимущества модели ATG-100W
- Неразрушающий анализ — сохранность образца при проведении измерений.
- Многослойный анализ — возможность одновременного определения толщины и состава до 5 слоёв.
- Высокая точность — стабильные результаты даже при измерении ультратонких покрытий (до 0,01 мкм).
- Гибкая калибровка — поддержка стандартных и пользовательских калибровочных кривых.
- Компактная конструкция — экономия рабочего пространства без ущерба для функциональности.
Технические характеристики Tanaka ATG-100W
| Параметр | Значение |
|---|---|
| Метод анализа | Рентгеновская флуоресценция (XRF) |
| Измеряемые элементы | От Ti (титан, Z=22) до U (уран, Z=92) |
| Количество слоёв | До 5 слоёв |
| Минимальная измеряемая толщина | 0,01 мкм (в зависимости от материала) |
| Рентгеновская трубка | 50 кВ, 1 мА, Rh-анод |
| Детектор | Пропорциональный счётчик |
| Размер измерительного пятна | Ø 0,5 мм / Ø 1,0 мм (выбор по заказу) |
| Камера измерения | Открытая, с возможностью установки крупногабаритных образцов |
| Питание | AC 100–240 В, 50/60 Гц |
| Габариты (Ш × Г × В) | 450 × 450 × 400 мм |
| Масса | Около 40 кг |
Применение в промышленности
ATG-100W особенно востребован при контроле качества гальванических покрытий, таких как золото, серебро, никель, хром и олово на медных или стальных подложках. В электронике прибор используется для верификации толщины контактных площадок и защитных слоёв на печатных платах. В ювелирной отрасли — для проверки пробы и равномерности напыления драгоценных металлов.
Благодаря открытой измерительной камере, прибор допускает анализ крупногабаритных или нестандартных по форме изделий, что делает его универсальным решением для производственных линий и лабораторий контроля качества.
Анализатор толщины пленки Tanaka ATG-100W сочетает в себе передовые технологии XRF-спектрометрии, надёжность японского инженерного подхода и удобство эксплуатации. Это оборудование обеспечивает соответствие международным стандартам качества и позволяет оперативно принимать решения на основе достоверных данных о составе и толщине покрытий.