XF-P3 — это своего рода высокопроизводительный анализатор толщины покрытий, выпущенный компанией CFAN Instrument для индустрии контроля покрытий. Машина оснащена индивидуальным детектором Fast-SDD, который имеет встроенный промышленный управляющий компьютер, использует алгоритм Smart FP, не требует стандартного образца и может одновременно точно определять толщину и состав покрытия. Его можно широко использовать в различных отраслях, таких как гальваника, химическое покрытие, разъемы, гальванические решения и анализ покрытий печатных плат. Анализатор работает быстро, стабильно и точно.
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий XF-P3 с с FAST-SDD детектором
Особенности
| Технические параметры | |
| Элементы анализа | Al(№13)~U(№92) |
| Точность теста | RSD ± 1,5% (толщина) |
| XY-платформа | Легко тестируйте крошечные образцы, ход: 30 мм × 30 мм. |
| Многоуровневый анализ | Поддержка до 10 слоев |
| Умный алгоритм | Одновременный анализ толщины и состава |
| Несколько коллиматоров | 0,1*0,2 мм/0,2*0,5 мм/Φ1,0 мм |
| Требования к окружающей среде | |
| Напряжение | 220 В, 50 Гц |