XF-P1 — это своего рода анализатор толщины покрытия, выпущенный CFAN Instrument для индустрии контроля покрытий, который может широко использоваться в различных гальванических, химических и других отраслях. Машина оснащена детектором Si-PIN, изготовленным по индивидуальному заказу США, встроенным промышленным компьютером и работает по алгоритму Smart FP. Нет необходимости в стандартных образцах, толщина и состав покрытия могут быть определены одновременно. Анализатор работает быстро, стабильно и точно.
Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий XF-P1
Основные технические характеристики
| Технические параметры | |
| Элементы анализа | К(№19)~U(№92) |
| Точность теста | RSD±2,5% (толщина) |
| Простое управление | Тестирование в один клик, автоматический отчет |
| Многоуровневый анализ | Поддержка до четырех слоев |
| Умный алгоритм | Одновременный анализ толщины и состава |
| Требования к окружающей среде | |
| Напряжение | 220 В, 50 Гц |