Аналитическое и исследовательское оборудование
Наличие:
Под заказ 60 дней
Узнать цену
Оставьте свой номер телефона и наш менеджер ответит на все интересующие Вас вопросы
Закончился
0.00BYN

XF-P1 — это своего рода анализатор толщины покрытия, выпущенный CFAN Instrument для индустрии контроля покрытий, который может широко использоваться в различных гальванических, химических и других отраслях. Машина оснащена детектором Si-PIN, изготовленным по индивидуальному заказу США, встроенным промышленным компьютером и работает по алгоритму Smart FP. Нет необходимости в стандартных образцах, толщина и состав покрытия могут быть определены одновременно. Анализатор работает быстро, стабильно и точно.

Рентгенофлуоресцентный толщиномер покрытий XF-P1

Основные технические характеристики

Технические параметры

Элементы анализа

К(№19)~U(№92)

Точность теста

RSD±2,5% (толщина)

Простое управление

Тестирование в один клик, автоматический отчет

Многоуровневый анализ

Поддержка до четырех слоев

Умный алгоритм

Одновременный анализ толщины и состава

Требования к окружающей среде

Напряжение

220 В, 50 Гц