Современный Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 представляет собой мощный прибор для анализа элементного состава, который обладает многоканальной регистрацией спектра. За считанные минуты прибор позволяет определить элементный (оксидный) состав пробы, и его диапазон измерения варьируется от 0.01 ррм до 100%. Анализатор выявляет элементы от H до U.
Для анализа даже небольших количеств вещества (от 50 нанограмм) потребуется не более 15 минут, включая время на пробоподготовку. За приблизительно 7 минут прибор определит однородность материала и выполнит 400 анализов. Программное обеспечение ATILLA 2 позволяет полноценно использовать прибор с первого дня эксплуатации, и оно просто в использовании - базовые функции можно освоить всего за несколько часов.
Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 обладает высокой пространственной, энергетической и временной стабильностью, которая обеспечивается двухимпульсным лазерным источником активности спектров наносекундного длительности. Прибор гарантирует прекрасную читаемость результатов анализа и обнаруживает связи и химические элементы на низком уровне. Активные спектры могут работать как в дуговом, так и в искровом режимах. Оригинальный светосильный безабберационный спектрограф обеспечивает высокое спектральное разрешение и линейчатые спектры излучения высокого качества. Наконец, благодаря уникальной системе регистрации кратковременных импульсных световых сигналов данный прибор способен обеспечить высокую точность и достоверность измерений в широком диапазоне концентраций элементов.
Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500
Лазерный источник излучения спeктров и система регистрации анализатора LEA-S500
Специальный двухимпульсный Nd:YAG лазер с модулированной добротностью - источник излучения спeктров
Источником атомно-эмиссионного спектра в анализаторе элементного состава LEA-S500 является плазма, образованная веществом анализируемой пробы за счет воздействия мощных световых импульсов от специального двухимпульсного Nd:YAG лазера с модулированной добротностью.
Согласно исследованию, применение двух последовательных лазерных импульсов на пробу с задержкой времени, не превышающей время жизни плазмы, дает значительный прирост интенсивности и стабильности спектральных линий по сравнению с одноимпульсным излучением. Этот эффект позволяет улучшить предел обнаружения элементов, повысить точность измерений и расширить аналитические возможности прибора, за счет появления дополнительных линий с высокой энергией излучения.
Оригинальный спектрограф с фокусным расстоянием 520 мм, используются для получения высококачественных линейчатых спектров излучения, что обеспечивает возможность их последующей аналитической обработки. Схема светосильной безабберационной симметричной вертикальной конструкции также обеспечивает высокое качество изображения.
Преимущества оборудования:
- Минимальная подготовка анализируемой пробы перед измерением массовой доли (концентрации) химических элементов или их соединений (оксидов).
- Экспрессный многоэлементный анализ химического состава возможен за одно измерение.
- Измерения обладают высокой чувствительностью и прецизионностью в широком диапазоне концентраций.
- Нет необходимости изменять агрегатное состояние пробы, так как анализ проб производится в заданных точках (областях) поверхности с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения.
- Возможен послоный анализ покрытий, пленок, налетов, коррозий, анализ состава включений, пороков и дефектов.
- Шаг анализа распределения химических элементов в пробе составляет от 30 мкм; возможно построение карт распределения элементов по поверхности и глубине.
- Пробоподготовка не требует особо чистых реактивов, дорогостоящих расходных материалов и инертного газа для решения большинства задач.
- Предварительная очистка загрязненных поверхностей проб осуществляется с помощью импульсов лазера.
- Прибор универсален и не требует переналадки или модернизации для решения различных задач.
- В комплекте поставки включены адаптеры для анализа токопроводящих и токонепроводящих материалов, проволоки любого диаметра, шариков и цилиндрических деталей без дополнительной обработки.
- Работа и техническое обслуживание оборудования удобны и безопасны для персонала.
- Оборудование полностью защищает персонал от вредных факторов.
Уникальная система регистрации кратковременных импульсных световых сигналов
Разработана уникальная система для регистрации кратковременных импульсных световых сигналов. В спектральных приборах эта система может использоваться как система регистрации вместо традиционных методов. Такой подход обладает рядом преимуществ перед привычными методами регистрации.
Одним из основных преимуществ является возможность регистрации широкой области спектра одновременно. Это достигается благодаря использованию цифровых камер с многоэлементными приемниками излучения, которые в свою очередь способны обеспечить высокое быстродействие регистрации. Быстродействие системы позволяет регистрировать спектры, излучаемые частотными импульсными источниками, что способствует проведению большого числа измерений за единицу времени - в данном случае это 20 измерений в секунду. Кроме того, система обладает широкой спектральной чувствительностью, а также низкими собственными шумами и широким динамическим диапазоном.
Для использования в анализаторе элементного состава LEA-S500 используется многоэлементная система регистрации спектра, включающая цифровую камеру с 16-битным разрешением и 2048 светочувствительными элементами. Эта система обладает высокой квантовой эффективностью в интервале волн от 170 до 800 нм, а также высокой чувствительностью, достигающей 1 ppb. Кроме того, система обладает большим динамическим диапазоном - около 12 тыс.
Одноимпульсный режим излучения спектров
Двухимпульсный режим излучения спектров
Наша технология гарантирует следующее:
- Точность и высокую точность определения элементов и их соединений (оксидов) в образцах.
- Низкий предел обнаружения элементов (от 0,01 ppm до 1 ppb).
- Возможность анализа состава как токопроводящих, так и нетокопроводящих твердых образцов (монолитных и порошковых).
- Использование аналитических линий с наилучшей чувствительностью к концентрации элементов, не обремененных взаимным спектральным наложением.
- Максимальная эффективность использования светового сигнала для анализа.
- Удобство и полную безопасность в эксплуатации и обслуживании прибора.
- Защиту персонала от негативного воздействия вредных факторов.
Условия эксплуатации лазерного анализатора элементного состава LEA-S500
Условия эксплуатации LEA-S500:
Эксплуатационные условия для лазерного анализатора элементного состава LEA-S500
Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 обеспечивает надежную защиту персонала от опасных производственных и физических факторов при работе благодаря его конструкции.
Для работы анализатора следует обеспечить температуру воздуха в пределах 15-27 °C и относительную влажность воздуха не более 80% при температуре 25 °C, предотвращая конденсацию влаги. Ежедневный перепад температур внутри помещения не должен превышать 3 °C, а предельные различия в течение двух часов не должны превышать 2 °C.
Воздух рабочей зоны не должен содержать токопроводящую мелкодисперсную пыль и агрессивные химические вещества.
Для питания анализатора следует использовать сеть переменного тока с напряжением (220 ± 22) В и частотой (50 ± 1) или (60 ± 1) Гц.
Площадь производственного помещения, где предполагается использование анализатора, должна составлять не менее 15 м².
При эксплуатации анализатора должны быть соблюдены следующие нормативы свободного пространства:
- с задней и боковой сторон — не менее 1 метра;
- с лицевой стороны — не менее 2 метров.
Защитное заземление прибора должно быть выполнено в соответствии с ГОСТ 12.1.030-81, ГОСТ Р 50571.10-96.
Сертификация лазерного анализатора элементного состава LEA-S500®
LEA-S500 внесен в реестр средств измерения РФ.
Свидетельство об утверждении лазерного анализатора элементного состава LEA-S500 в качестве типа средств измерений
